為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱(chēng)為可靠性試驗(yàn)。試驗(yàn)?zāi)康耐ǔＳ腥缦聨追矫妫?　　

1. 在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況； 　　
2. 生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過(guò)程提供信息； 　　
3. 對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收； 　　
4. 暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理； 　　
5. 為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案，為用戶(hù)選用產(chǎn)品提供依據(jù)。 　　
對(duì)于不同的產(chǎn)品，為了達(dá)到不同的目的，可以選擇不同的可靠性試驗(yàn)方法。

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